電源有哪9大可靠性測(cè)試

測(cè)試說(shuō)明：

在各種輸入和輸出狀態(tài)下將模塊輸出短路，模塊應(yīng)能實(shí)現(xiàn)保護(hù)或回縮，反復(fù)多次短路，故障排除后，模塊應(yīng)該能自動(dòng)恢復(fù)正常運(yùn)行。

測(cè)試方法：

a、空載到短路：在輸入電壓全范圍內(nèi)，將模塊從空載到短路，模塊應(yīng)能正常實(shí)現(xiàn)輸出限流或回縮，短路排除后，模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作。讓模塊反復(fù)從空載到短路不斷的工作，短路時(shí)間為1s，放開(kāi)時(shí)間為1s，持續(xù)時(shí)間為2小時(shí)。這以后，短路放開(kāi)，判斷模塊是否能夠正常工作；

b、滿(mǎn)載到短路：在輸入電壓全范圍內(nèi)，將模塊從滿(mǎn)載到短路，模塊應(yīng)能正常實(shí)現(xiàn)輸出限流或回縮，短路排除后，模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作。讓模塊從滿(mǎn)載到短路然后保持短路狀態(tài)2小時(shí)。然后短路放開(kāi)，判斷模塊是否能夠正常工作；

c、短路開(kāi)機(jī)：將模塊的輸出先短路，再上市電，再模塊的輸入電壓范圍內(nèi)上電，模塊應(yīng)能實(shí)現(xiàn)正常的限流或回縮，短路故障排除后，模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作，重復(fù)上述試驗(yàn)10次后，讓短路放開(kāi)，判斷模塊是否能夠正常工作。

判定標(biāo)準(zhǔn)：

上述試驗(yàn)后，電源模塊開(kāi)機(jī)能正常工作；開(kāi)機(jī)殼檢查，電路板及其他部分無(wú)異常現(xiàn)象（如輸入繼電器在短路的過(guò)程中觸電是否粘住了等），合格；否則不合格。

測(cè)試說(shuō)明：

電源模塊輸出帶最大負(fù)載情況下，輸入電壓分別為220v，（輸入過(guò)壓點(diǎn)-5v）和（輸入欠壓點(diǎn)+5v）條件下，輸入反復(fù)開(kāi)關(guān)，測(cè)試電源模塊反復(fù)開(kāi)關(guān)機(jī)的性能。

測(cè)試方法：

a、輸入電壓為220v，電源模塊快帶最大負(fù)載，用接觸器控制電壓輸入，合15s，斷開(kāi)5s（或者可以用ac source進(jìn)行模擬），連續(xù)運(yùn)行2小時(shí)，電源模塊應(yīng)能正常工作；

b、輸入電壓為過(guò)壓點(diǎn)-5v，電源模塊帶最大負(fù)載，用接觸器控制電壓輸入，合15s，斷開(kāi)5s（或者可以用ac source進(jìn)行模擬），連續(xù)運(yùn)行2小時(shí)，電源模塊應(yīng)能正常工作；

c、輸入電壓為欠壓點(diǎn)-5v，電源模塊帶最大負(fù)載，用接觸器控制電壓輸入，合15s，斷開(kāi)5s（或者可以用ac source進(jìn)行模擬），連續(xù)運(yùn)行2小時(shí)，電源模塊應(yīng)能正常工作。

判斷標(biāo)準(zhǔn)：

以上試驗(yàn)中，電源模塊工作正常，試驗(yàn)后電源模塊能正常工作，性能無(wú)明顯變化，合格；否則不合格。

測(cè)試說(shuō)明：

一次電源模塊的輸入欠壓點(diǎn)保護(hù)的設(shè)置回差，往往發(fā)生以下情況：輸入電壓較低，接近一次電源模塊欠壓點(diǎn)關(guān)斷，帶載時(shí)欠壓，斷后，由于電源內(nèi)阻原因，負(fù)載卸掉后電壓將上升，可能造成一次電源模塊處于在低壓時(shí)反復(fù)開(kāi)發(fā)的狀態(tài)。

測(cè)試方法：

電源模塊帶滿(mǎn)載運(yùn)行，輸入電壓從（輸入欠壓點(diǎn)－3v）到（輸入欠壓點(diǎn)＋3v）緩慢變化，時(shí)間設(shè)置為5～8分鐘，反復(fù)循環(huán)運(yùn)行，電源模塊應(yīng)能正常穩(wěn)定工作，連續(xù)運(yùn)行最少0.5小時(shí)，電源模塊性能無(wú)明顯變化。

判定標(biāo)準(zhǔn)：

一次電源模塊正常連續(xù)運(yùn)行，最少0.5小時(shí)后性能無(wú)明顯變化，合格；否則不合格。

測(cè)試說(shuō)明：

pfc電路采用平均值電路進(jìn)行過(guò)欠壓保護(hù)，因此在輸入瞬態(tài)高壓時(shí)，pfc電路可能會(huì)很快實(shí)現(xiàn)保護(hù)，從而造成損壞，測(cè)試一次電源模塊在瞬態(tài)情況下的穩(wěn)定運(yùn)行能力以評(píng)估可靠性。

測(cè)試方法：

a、額定電壓輸入，用雙蹤示波器測(cè)試輸入電壓波形合過(guò)壓保護(hù)信號(hào)，輸入電壓從限功率點(diǎn)加5v跳變?yōu)?00v，從示波器上讀出過(guò)壓保護(hù)前300v的周期數(shù)n，作為以下試驗(yàn)的依據(jù)；

b、額定輸入電壓，電源模塊帶滿(mǎn)載運(yùn)行，在輸入上疊加300v的電壓跳變，疊加的周期數(shù)為（n－1），疊加頻率為1次/30s，共運(yùn)行3小時(shí)。

判定標(biāo)準(zhǔn)：

一次電源模塊在上述條件下能夠穩(wěn)定運(yùn)行，不出現(xiàn)損壞或其他不正常現(xiàn)象，合格；否則不合格。

測(cè)試說(shuō)明：

一次模塊在實(shí)際使用過(guò)程中，當(dāng)輸入電壓跌落時(shí)，電源模塊突加負(fù)載的極限情況是可能發(fā)生的，此時(shí)功率器件、磁性元件工作在最大瞬態(tài)電流狀態(tài)，試驗(yàn)可以檢驗(yàn)控制時(shí)序、限流保護(hù)等電路及軟件設(shè)計(jì)的合理性。

測(cè)試方法：

a、將輸入電壓調(diào)整為在欠壓點(diǎn)＋5v（持續(xù)時(shí)間為5s）、過(guò)壓點(diǎn)-5v（持續(xù)時(shí)間為5s）之間跳變，輸出調(diào)整在最大負(fù)載（最大額定容量，持續(xù)時(shí)間為500ms）、空載（持續(xù)時(shí)間為500ms）之間跳變，運(yùn)行1小時(shí)；

b、將輸入電壓調(diào)整為欠壓點(diǎn)＋5v（持續(xù)時(shí)間為5s）、過(guò)壓點(diǎn)-5v（持續(xù)時(shí)間為5s）之間跳變，輸出調(diào)整在最大負(fù)載（最大額定容量，持續(xù)時(shí)間為1s）、空載（持續(xù)時(shí)間為500ms）之間跳變，運(yùn)行1小時(shí)。

判定標(biāo)準(zhǔn)：

在上述條件下，應(yīng)能穩(wěn)定運(yùn)行，不出現(xiàn)損壞或其他不正常現(xiàn)象，合格；否則不合格。若出現(xiàn)損壞情況，記錄故障問(wèn)題，以提供分析損壞原因的依據(jù)。

測(cè)試說(shuō)明：

高壓空載運(yùn)行是測(cè)試模塊的損耗情況，尤其是帶軟開(kāi)關(guān)技術(shù)的模塊，在空載情況下，軟開(kāi)關(guān)變?yōu)橛查_(kāi)關(guān)，模塊的損耗相應(yīng)增大。低壓滿(mǎn)載運(yùn)行是測(cè)試模塊在最大輸入電流時(shí)，模塊的損耗情況，通常狀態(tài)下，模塊在低壓輸入、滿(mǎn)載輸出時(shí)，此時(shí)模塊的發(fā)熱尤為嚴(yán)重。

測(cè)試方法：

a、將模塊的輸入電壓調(diào)整為輸入過(guò)壓保護(hù)點(diǎn)-3v，模塊的輸出為輸出電壓，空載運(yùn)行，此時(shí)，模塊的占空比為最小，連續(xù)運(yùn)行2小時(shí)，模塊不應(yīng)損壞；

b、將模塊的輸入電壓調(diào)整為欠壓點(diǎn)+3v，模塊的輸出為最高輸出電壓的拐點(diǎn)狀態(tài)，此時(shí)模塊的占空比為最大，連續(xù)運(yùn)行2小時(shí)，模塊不應(yīng)出現(xiàn)損壞；

c、將模塊的輸入電壓調(diào)整為低點(diǎn)時(shí)的輸入電壓，模塊輸出為最高輸出電壓的拐點(diǎn)狀態(tài)，連續(xù)運(yùn)行2小時(shí)，模塊不應(yīng)損壞；

d、將模塊的輸入電壓調(diào)整為過(guò)壓點(diǎn)-3v，模塊的輸出為最高輸出電壓的拐點(diǎn)狀態(tài)，此時(shí)模塊的占空比為最大，連續(xù)運(yùn)行2小時(shí)，模塊不應(yīng)出現(xiàn)損壞；

e、將模塊的輸入電壓調(diào)整為低時(shí)的輸入電壓，模塊輸出為最高輸出電壓的拐點(diǎn)狀態(tài)，連續(xù)運(yùn)行2小時(shí)，模塊不應(yīng)損壞。

注意：上述的測(cè)試，必須在規(guī)格書(shū)規(guī)定的最高工作溫度下進(jìn)行。

判定標(biāo)準(zhǔn)：

在上述條件下工作，模塊沒(méi)有出現(xiàn)損壞，合格；否則不合格。

測(cè)試說(shuō)明：

檢驗(yàn)電源模塊在電網(wǎng)波形畸變可能形成的尖鋒、毛刺和諧波情形下穩(wěn)定運(yùn)行能力。以下幾種波形必須輸入進(jìn)行試驗(yàn)：

（1）毛刺輸入測(cè)試波形

電網(wǎng)的毛刺是電網(wǎng)中常見(jiàn)的波形，毛刺的大小和幅值并沒(méi)有限值，一般情況下，通過(guò)振蕩波輸入測(cè)試和振鈴輸入波形，基本上可以模擬電網(wǎng)中的毛刺輸入，但還需做以下毛刺輸入試驗(yàn)。

特點(diǎn)：電網(wǎng)尖鋒有過(guò)沖并會(huì)跌落到0v，過(guò)沖和跌落脈寬很窄，一般不會(huì)大于100ms，過(guò)沖幅度一般不超過(guò)100v。跌落的相位并不僅只限于峰值點(diǎn)，在任何相位都有可能發(fā)生。這種波形在實(shí)際電網(wǎng)中很常見(jiàn)，開(kāi)通任何開(kāi)關(guān)都會(huì)造成該現(xiàn)象。

（2）電壓削波波形輸入

這種波形也是電網(wǎng)中很常見(jiàn)的，特點(diǎn)是：電網(wǎng)從不定的相位突然跌落到0v，然后直到下個(gè)半波開(kāi)始才恢復(fù)。在iec1004-4-11中對(duì)于波形的跌落是從大于半個(gè)周期開(kāi)始的，但實(shí)際電網(wǎng)中還是存在很多類(lèi)似的跌落時(shí)間小于半個(gè)周期的波形。測(cè)試時(shí)要求，輸入電壓波形從90度開(kāi)始跌落，跌落1/4個(gè)周期，長(zhǎng)時(shí)間工作2小時(shí)。

（3）電網(wǎng)的半個(gè)波頭陡升至倍電壓，這個(gè)波形主要是用來(lái)模擬實(shí)際電網(wǎng)中會(huì)突然出現(xiàn)的諧振過(guò)電壓，而且在這種情況下，模塊的輸入過(guò)電壓保護(hù)線(xiàn)路不起作用，這種沖擊對(duì)于有pfc的電路是存在危險(xiǎn)的。測(cè)試內(nèi)容：a、在輸入電壓為180v，輸出滿(mǎn)載的情況下，用ac source模擬該波形，要求180v工作3分鐘，然后電壓突然增加到380v，持續(xù)100ms，然后恢復(fù)到180v，讓模塊在這種情況下長(zhǎng)時(shí)間工作1小時(shí)，不應(yīng)損壞；b、設(shè)置ac source使得輸入電壓為0v，持續(xù)5分鐘，然后電壓突然增加到380v，持續(xù)100ms，然后恢復(fù)到0v，讓模塊在這種情況下長(zhǎng)時(shí)間工作1小時(shí)，不應(yīng)損壞。

測(cè)試方法：

利用ac source對(duì)模塊供電，模塊滿(mǎn)載輸出；用ac source模擬尖鋒、毛刺和諧波電壓輸入，每種特殊的電壓輸入工作2小時(shí)，測(cè)量輸入電流和輸出電壓。模塊應(yīng)能穩(wěn)定運(yùn)行，試驗(yàn)中注意x電容，輔助電源，軟啟動(dòng)電阻等其他可能出現(xiàn)問(wèn)題的地方。

判定方法：

在實(shí)際中可能出現(xiàn)尖鋒、毛刺、諧波電壓情形下能穩(wěn)定運(yùn)行，不損壞，合格；否則不合格。

體;

測(cè)試說(shuō)明：

帶有源pfc的電源模塊，對(duì)電網(wǎng)尖鋒、毛刺合和諧波比較敏感，應(yīng)進(jìn)行全面仔細(xì)的測(cè)試。

測(cè)試方法：

利用ac source交流源作為輸入電壓源，輸出分別帶半載、滿(mǎn)載，測(cè)試輸入電流波形和電壓波形，同時(shí)監(jiān)測(cè)pfc后的電壓；測(cè)試電網(wǎng)在尖鋒、毛刺、諧波情況下輸入電壓、電流的相位及幅值關(guān)系；測(cè)量pfc開(kāi)關(guān)管的電流和電壓，驗(yàn)證在全電壓范圍和毛刺、尖鋒、諧波等情況下開(kāi)關(guān)管和其他功率器件的安全性及電流跟蹤電壓變化的能力。

判定標(biāo)準(zhǔn)：

pfc測(cè)試可以作為可靠性參考，出現(xiàn)嚴(yán)重問(wèn)題時(shí)，應(yīng)及時(shí)解決。

測(cè)試說(shuō)明：

電網(wǎng)中存在多種操作過(guò)電壓，其中常見(jiàn)的時(shí)空載線(xiàn)路合閘過(guò)電壓，這種過(guò)電壓對(duì)模塊的威脅也較大，本項(xiàng)測(cè)試在于驗(yàn)證模塊抗操作過(guò)電壓的能力。

測(cè)試方法：

過(guò)電壓線(xiàn)路的模擬十分簡(jiǎn)單，原理如下：

其中電感的參數(shù)為10mh（供參考：ees的模塊測(cè)試方法中，沒(méi)有接地電容，輸入電阻與電感串聯(lián)，電阻值為0歐、電感為8mh和電阻為79歐、電感為10mh兩種情況的測(cè)試），電容為16.7uf，測(cè)試波形如下（未畫(huà)出）。

將被測(cè)試的設(shè)備連接在電容兩端，在k合閘瞬間，在電容兩端會(huì)產(chǎn)生過(guò)電壓，用來(lái)模擬在上電過(guò)程中，過(guò)電壓對(duì)設(shè)備的損害程度。作為極限測(cè)試項(xiàng)目，輸入接l、n線(xiàn)，將被測(cè)試的設(shè)備接在電容兩端，頻繁開(kāi)關(guān)機(jī)，重復(fù)頻率為1次/5分鐘，連續(xù)測(cè)試5小時(shí)。對(duì)于三相輸入設(shè)備，輸入接在l、l線(xiàn)上，被測(cè)試設(shè)備接在電容兩端，重復(fù)頻率為1次/5分鐘，連續(xù)測(cè)試2小時(shí)。

判定標(biāo)準(zhǔn)：

在測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)短時(shí)功能下降或性能劣化，但能自動(dòng)恢復(fù)的，合格；但出現(xiàn)性能性劣化或需要人工干預(yù)才能恢復(fù)的，不合格。